Book Description: Качество и надежность интегральных микросхем Author: Козырь И. Я. 1987 138 Высшая школа The manual provides information on the basic concepts of theory and quantitative indicators of the quality and reliability of integrated circuits, methods of quality control calculation and assessment of reliability, as well as issues of forecasting and improving quality and reliability indicators of IMS and LSI. The book covers the following topics: 1. Introduction to the basics of integrated circuits and their importance in modern technology 2. The concept of quality and reliability in integrated circuits 3. Methods of calculating and assessing quality and reliability indicators 4. Forecasting and improving quality and reliability indicators 5. Case studies of successful implementation of quality and reliability principles in integrated circuits 6. Challenges and future directions in the development of integrated circuits 7. Conclusion and recommendations for further research The book is intended for engineers, technologists, and researchers working in the field of integrated circuits, as well as students and educators interested in the subject. It provides a comprehensive overview of the current state of the art in integrated circuit technology and highlights the key challenges and opportunities facing the industry today.

Автор Качество и надежность интегральных микросхем: Козырь И.Я. 1987 138 Высшая школа руководство предоставляет информацию о фундаментальных понятиях теории и количественных индикаторах качества и надежности интегральных схем, методы расчета контроля качества и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИСМ и ИСМ. Книга охватывает следующие темы: 1. Введение в основы интегральных схем и их значение в современной технике 2. Понятие качества и надежности в интегральных схемах 3. Методы расчета и оценки показателей качества и надежности 4. Прогнозирование и улучшение показателей качества и надежности 5. Примеры успешной реализации принципов качества и надежности в интегральных схемах 6. Вызовы и будущие направления в развитии интегральных схем 7. Заключение и рекомендации для дальнейших исследований Книга предназначена для инженеров, технологов, исследователей, работающих в области интегральных схем, а также студентов и педагогов, интересующихся предметом. В нем представлен всесторонний обзор современного состояния технологий интегральных схем и освещены ключевые проблемы и возможности, с которыми сегодня сталкивается отрасль.

Auteur Qualité et fiabilité des puces intégrées : Atout I.I. 1987 138 L'école supérieure de direction fournit des informations sur les concepts fondamentaux de la théorie et des indicateurs quantitatifs de qualité et de fiabilité des circuits intégrés, les méthodes de calcul du contrôle de la qualité et de l'évaluation de la fiabilité, ainsi que les questions de prévision et d'amélioration des indicateurs de qualité et de fiabilité de l'ISM et de l'ISM. livre couvre les sujets suivants : 1. Introduction aux bases des circuits intégrés et leur importance dans la technique moderne 2. Notion de qualité et de fiabilité dans les circuits intégrés 3. Méthodes de calcul et d'évaluation des indicateurs de qualité et de fiabilité 4. Anticiper et améliorer les indicateurs de qualité et de fiabilité 5. Exemples de mise en oeuvre réussie des principes de qualité et de fiabilité dans les circuits intégrés 6. Défis et orientations futures dans le développement des circuits intégrés 7. Conclusion et recommandations pour la poursuite de la recherche livre est destiné aux ingénieurs, aux technologues, aux chercheurs travaillant dans le domaine des circuits intégrés, ainsi qu'aux étudiants et aux éducateurs intéressés par le sujet. Il donne un aperçu complet de l'état actuel des technologies des circuits intégrés et met en lumière les principaux défis et opportunités auxquels l'industrie est confrontée aujourd'hui.

Autore Qualità e affidabilità dei chip integrali: I.Y. Building 1987 138 High School Guide fornisce informazioni sui concetti fondamentali della teoria e sugli indicatori quantitativi di qualità e affidabilità dei circuiti integrali, sui metodi per il controllo della qualità e la valutazione dell'affidabilità, sulle previsioni e sull'aumento degli indicatori di qualità e affidabilità dell'ISM e dell'ISM. Il libro comprende i seguenti argomenti: 1. Introduzione alle basi dei circuiti integrali e il loro significato nella moderna tecnica 2. Il concetto di qualità e affidabilità nei circuiti integrati 3. Metodi di calcolo e valutazione di qualità e affidabilità 4. Previsione e miglioramento della qualità e dell'affidabilità 5. Esempi di successo dei principi di qualità e affidabilità nei circuiti integrati 6. Sfide e orientamenti futuri nello sviluppo dei circuiti integrativi 7. Conclusioni e raccomandazioni per ulteriori studi Il libro è rivolto a ingegneri, tecnologi, ricercatori che operano nel campo dei circuiti integrativi e studenti e insegnanti interessati alla materia. Fornisce una panoramica completa dello stato attuale della tecnologia dei circuiti integrati e illustra le principali sfide e le opportunità che il settore deve affrontare.

Autor Qualität und Zuverlässigkeit von ICs: Trumpf I. J. 1987 138 Graduate School Guide bietet Informationen über die grundlegenden Konzepte der Theorie und quantitative Indikatoren für die Qualität und Zuverlässigkeit von integrierten Schaltungen, Methoden zur Berechnung der Qualitätskontrolle und Zuverlässigkeitsbewertung sowie Fragen der Vorhersage und Verbesserung der Qualitäts- und Zuverlässigkeitsindikatoren von IMS und IMS. Das Buch behandelt folgende Themen: 1. Einführung in die Grundlagen der integrierten Schaltungen und ihre Bedeutung in der modernen 2. Das Konzept der Qualität und Zuverlässigkeit in integrierten Schaltungen 3. Methoden zur Berechnung und Bewertung von Qualitäts- und Zuverlässigkeitsindikatoren 4. Vorhersage und Verbesserung von Qualitäts- und Zuverlässigkeitsindikatoren 5. Beispiele für die erfolgreiche Umsetzung der Qualitäts- und Zuverlässigkeitsprinzipien in integrierten Schaltungen 6. Herausforderungen und zukünftige Richtungen bei der Entwicklung integrierter Schaltungen 7. Schlussfolgerung und Empfehlungen für weitere Forschung Das Buch richtet sich an Ingenieure, Technologen, Forscher, die auf dem Gebiet der integrierten Schaltungen arbeiten, sowie an Studenten und Pädagogen, die sich für das Thema interessieren. Es bietet einen umfassenden Überblick über den aktuellen Stand der integrierten Schaltungstechnik und beleuchtet die wichtigsten Herausforderungen und Chancen, mit denen die Branche heute konfrontiert ist.

''

Yazar Entegre Devrelerin Kalitesi ve Güvenilirliği: Kozyr I.Ya. 1987 138 Yüksek Yönetim Okulu, entegre devrelerin kalite ve güvenilirliğinin temel teori ve nicel göstergeleri, kalite kontrolünü hesaplama ve güvenilirliği değerlendirme yöntemleri, ayrıca tahmin etme ve iyileştirme konuları hakkında bilgi sağlar. Kitap şu konuları kapsamaktadır: 1. Tümleşik devrelerin temellerine ve modern teknolojideki önemine giriş 2. Tümleşik devrelerde kalite ve güvenilirlik kavramı 3. Kalite ve güvenilirlik göstergelerini hesaplama ve değerlendirme yöntemleri 4. Kalite ve güvenilirlik göstergelerinin tahmin edilmesi ve iyileştirilmesi 5. Tümleşik devrelerde kalite ve güvenilirlik ilkelerinin başarılı bir şekilde uygulanması 6. Tümleşik devrelerin geliştirilmesindeki zorluklar ve gelecek yönelimler 7. Sonuç ve daha fazla araştırma için öneriler Kitap mühendisler, teknoloji uzmanları, entegre devreler alanında çalışan araştırmacılar yanı sıra konuyla ilgilenen öğrenci ve öğretmenler için tasarlanmıştır. Entegre devre teknolojisinin mevcut durumuna kapsamlı bir genel bakış sunar ve bugün endüstrinin karşılaştığı temel zorlukları ve fırsatları vurgular.

جودة المؤلف وموثوقية الدوائر المتكاملة: Kozyr I.Ya. 1987 138 توفر المدرسة العليا للإدارة معلومات عن المفاهيم الأساسية للنظرية والمؤشرات الكمية لنوعية الدوائر المتكاملة وموثوقيتها، وطرق حساب مراقبة الجودة وتقييم الموثوقية، فضلاً عن قضايا التنبؤ وتحسين الجودة مؤشرات موثوقية نظام الرصد الدولي ونظام الرصد الدولي. يغطي الكتاب المواضيع التالية: 1. مقدمة لأساسيات الدوائر المتكاملة وأهميتها في 2 التكنولوجيا الحديثة. مفهوم الجودة والموثوقية في الدوائر المتكاملة 3. طرائق حساب وتقييم مؤشرات الجودة والموثوقية 4. 5- التنبؤ بمؤشرات الجودة والموثوقية وتحسينها أمثلة على التنفيذ الناجح لمبادئ الجودة والموثوقية في الدوائر المتكاملة 6. التحديات والاتجاهات المستقبلية في تطوير 7 الدوائر المتكاملة. استنتاج وتوصيات لمزيد من البحث الكتاب مخصص للمهندسين والتقنيين والباحثين العاملين في مجال الدوائر المتكاملة، وكذلك الطلاب والمعلمين المهتمين بالموضوع. يقدم نظرة عامة شاملة على الوضع الحالي لتكنولوجيا الدوائر المتكاملة ويسلط الضوء على التحديات والفرص الرئيسية التي تواجه الصناعة اليوم.

통합 회로의 저자 품질 및 신뢰성: Kozyr I.Ya. 1987 고등 경영 대학원은 집적 회로의 품질 및 신뢰성에 대한 이론 및 정량적 지표의 기본 개념, 품질 관리 계산 및 신뢰성 평가 방법, IMS 및 IMS의 품질 및 신뢰성 지표 예측 및 개선. 이 책은 다음 주제를 다룹니다. 1. 집적 회로의 기본 사항과 현대 기술에서의 중요성에 대한 소개 2. 집적 회로의 품질과 신뢰성 개념 3. 품질 및 신뢰성 지표의 계산 및 평가 방법 4. 품질 및 신뢰성 지표의 예측 및 개선 5. 집적 회로에서 품질 및 신뢰성 원리의 성공적인 구현의 예 6. 집적 회로 개발에있어 도전과 미래 방향 7. 추가 연구에 대한 결론과 권장 사항이 책은 집적 회로 분야에서 일하는 엔지니어, 기술자, 연구원 및 주제에 관심이있는 학생 및 교사를위한 것입니다. 현재 집적 회로 기술 상태에 대한 포괄적 인 개요를 제공하며 오늘날 업계가 직면 한 주요 과제와 기회를 강조합니다.

Author Quality and Reliability of Integrated Circuits： Kozyr I。Ya。 1987 138 Higher School of Managementは、理論の基本的な概念と、集積回路の品質と信頼性、品質管理の計算と信頼性の評価方法、および予測と品質と信頼性の指標の改善の問題に関する情報を提供しますIMSおよびIMS。本は次のトピックをカバーしています：1。最新技術における集積回路の基礎とその意義の紹介2。集積回路の品質と信頼性の概念3。品質・信頼性指標の算出・評価方法4。品質・信頼性指標の予測・改善5。集積回路における品質と信頼性の原則の成功例6。集積回路の開発における課題と今後の方向性7。本書は、集積回路分野に従事するエンジニア、技術者、研究者、学生、教員を対象としています。これは、集積回路技術の現在の状態の包括的な概要を提供し、今日の業界が直面している重要な課題と機会を強調しています。

作者集成芯片的質量和可靠性：王牌I.Y. 1987 138高中領導層提供有關集成電路質量和可靠性理論的基本概念和定量指標的信息,質量控制計算方法和可靠性評估,以及預測和改進質量指標和可靠性問題ISM和ISM。該書涵蓋以下主題：1。介紹了集成電路的基礎及其在現代工程中的意義。集成電路中的質量和可靠性概念3。計算和評估質量和可靠性指標的方法4。預測和改進質量和可靠性指標5.在集成電路中成功實現質量和可靠性原則的示例6。集成電路發展的挑戰和未來方向7。本書面向工程師、技術人員、在集成電路領域工作的研究人員以及對該主題感興趣的學生和教育工作者。它全面概述了集成電路技術的現狀,突出了當今行業面臨的主要挑戰和機遇。