BOOKS - EQUIPMENT - Надежность силовых полупроводниковых приборов...
Надежность силовых полупроводниковых приборов - Бардин В.М. 1978 PDF М. Энергия BOOKS EQUIPMENT
Stars49 Stars 2 TON

Views
89285

Telegram
 
Надежность силовых полупроводниковых приборов
Author: Бардин В.М.
Year: 1978
Format: PDF
File size: 46 MB
Language: RU



Pay with Telegram STARS
Book Description: Надежность силовых полупроводниковых приборов (Reliability of Power Semiconductor Devices) The book provides an in-depth analysis of the reliability of power semiconductor devices, specifically focusing on MSR VK2200 diodes and T160 thyristors VKDU150. The authors delve into the common failure mechanisms of MSR and present methodical approaches to testing their reliability. The study also explores the factors that impact the reliability of these devices and offers suggestions for improvement. Plot Summary: As technology continues to evolve at a rapid pace, it is essential to understand the process of technological development and its impact on human survival. The book 'Надежность силовых полупроводниковых приборов' highlights the importance of studying and comprehending the evolution of modern knowledge to ensure the survival of humanity.
Надежность силовых полупроводниковых приборов (Надежность Устройств Силового полупроводника) книга обеспечивает всесторонний анализ надежности устройств силового полупроводника, конкретно сосредотачивающихся на диодах MSR VK2200 и тиристорах T160 VKDU150. Авторы углубляются в общие механизмы отказов MSR и представляют методические подходы к проверке их надежности. В исследовании также рассматриваются факторы, влияющие на надежность этих устройств, и предлагаются предложения по улучшению. Краткое изложение сюжета: Поскольку технологии продолжают развиваться быстрыми темпами, важно понимать процесс технологического развития и его влияние на выживание человека. Книга 'Надежность силовых полупроводниковых приборов'подчеркивает важность изучения и понимания эволюции современного знания, чтобы гарантировать выживание человечества.
la Sécurité des appareils de force demi-conducteurs (la Sécurité des Installations du semi-conducteur De force) le livre assure l'analyse approfondie de la sécurité des installations du semi-conducteur de force concrètement concentrées sur les diodes MSR VK2200 et тиристорах T160 VKDU150. s auteurs examinent les mécanismes généraux de défaillance des RSM et présentent des approches méthodologiques pour vérifier leur fiabilité. L'étude examine également les facteurs qui influent sur la fiabilité de ces appareils et propose des améliorations. Résumé de l'histoire : Étant donné que la technologie continue d'évoluer rapidement, il est important de comprendre le processus de développement technologique et son impact sur la survie humaine. livre « La fiabilité des semi-conducteurs de puissance » souligne l'importance d'étudier et de comprendre l'évolution des connaissances modernes pour garantir la survie de l'humanité.
Fiabilidad de los dispositivos semiconductores de potencia (Fiabilidad de los dispositivos semiconductores de potencia) libro proporciona un análisis completo de la fiabilidad de los dispositivos semiconductores de potencia que se centran específicamente en los diodos MSR VK2200 y tiristores T160 VKDU150. autores profundizan en los mecanismos generales de fallas de MSR y presentan enfoques metodológicos para verificar su fiabilidad. estudio también examina los factores que influyen en la fiabilidad de estos dispositivos y propone propuestas de mejora. Resumen de la trama: A medida que la tecnología continúa evolucionando rápidamente, es importante comprender el proceso de desarrollo tecnológico y su impacto en la supervivencia humana. libro 'Fiabilidad de los instrumentos semiconductores de potencia'destaca la importancia de estudiar y entender la evolución del conocimiento moderno para garantizar la supervivencia de la humanidad.
A confiabilidade dos aparelhos semicondutores de força (Confiabilidade dos Dispositivos Semicondutores de Força) fornece uma análise completa da confiabilidade dos dispositivos semicondutores de força que se concentram especificamente nos diodos MSR VK2200 e tiristores T160 VKDU150. Os autores se aprofundam em mecanismos gerais de falha MSR e apresentam abordagens metodológicas para verificar sua confiabilidade. O estudo também aborda os fatores que afetam a confiabilidade desses dispositivos e propõe melhorias. Resumo da história: Como a tecnologia continua a evoluir rapidamente, é importante compreender o processo de desenvolvimento tecnológico e seus efeitos na sobrevivência humana. O livro «Confiabilidade de instrumentos semicondutores de força» enfatiza a importância de estudar e compreender a evolução do conhecimento moderno para garantir a sobrevivência da humanidade.
Affidabilità degli apparecchi semiconduttori (Affidabilità Dispositivi Semiconduttori di potenza) fornisce un'analisi completa dell'affidabilità dei dispositivi semiconduttori di potenza che si concentrano specificamente sui diodi MSR VK2200 e sui tiristori T160 VKDU150. Gli autori approfondiscono i meccanismi comuni di guasto di MSR e presentano approcci metodologici per verificarne l'affidabilità. Lo studio affronta anche i fattori che influenzano l'affidabilità di questi dispositivi e propone proposte di miglioramento. In sintesi, poiché la tecnologia continua a crescere rapidamente, è importante comprendere il processo di sviluppo tecnologico e i suoi effetti sulla sopravvivenza umana. Il libro «Affidabilità dei semiconduttori di potenza» sottolinea l'importanza di studiare e comprendere l'evoluzione della conoscenza moderna per garantire la sopravvivenza dell'umanità.
Zuverlässigkeit von istungshalbleiterbauelementen (Zuverlässigkeit von istungshalbleiterbauelementen) Das Buch bietet eine umfassende Analyse der Zuverlässigkeit von istungshalbleiterbauelementen, die sich speziell auf MSR-Dioden VK2200 und Thyristoren T160 VKDU150 konzentrieren. Die Autoren vertiefen sich in die generellen Mechanismen von MSR-Fehlern und stellen methodische Ansätze zur Überprüfung ihrer Zuverlässigkeit vor. Die Studie untersucht auch die Faktoren, die die Zuverlässigkeit dieser Geräte beeinflussen, und schlägt Verbesserungsvorschläge vor. Zusammenfassung der Handlung: Da sich die Technologie weiterhin schnell entwickelt, ist es wichtig, den technologischen Entwicklungsprozess und seine Auswirkungen auf das menschliche Überleben zu verstehen. Das Buch The Reliability of Power Semiconductor Devices betont, wie wichtig es ist, die Entwicklung des modernen Wissens zu studieren und zu verstehen, um das Überleben der Menschheit zu gewährleisten.
Niezawodność urządzeń półprzewodnikowych zasilania (niezawodność urządzeń półprzewodnikowych zasilania) książka zapewnia kompleksową analizę niezawodności urządzeń półprzewodnikowych zasilania, koncentrując się szczególnie na diodach VK2200 MSR i tyrystorach T160 VKDU150. Autorzy zagłębiają się w ogólne mechanizmy niepowodzeń IAS i przedstawiają metodologiczne podejścia do sprawdzania ich wiarygodności. Badanie analizuje również czynniki wpływające na niezawodność tych urządzeń i sugeruje ulepszenia. Podsumowanie fabuły: Ponieważ technologia nadal rozwija się w szybkim tempie, ważne jest, aby zrozumieć proces rozwoju technologicznego i jego wpływ na przetrwanie człowieka. Książka „Niezawodność urządzeń półprzewodnikowych mocy” podkreśla znaczenie studiowania i zrozumienia ewolucji nowoczesnej wiedzy w celu zapewnienia przetrwania ludzkości.
אמינות התקנים למוליכים למחצה (אמינות התקנים למוליכים למחצה) הספר מספק ניתוח מקיף של אמינות התקנים למוליכים למחצה במיוחד תוך התמקדות ב-MSR דיודות ותיריסטורים . המחברים מתעמקים במנגנונים הכלליים של כשלי MSR ומציגים גישות מתודולוגיות לבדיקת מהימנותם. המחקר גם בוחן גורמים המשפיעים על מהימנות התקנים אלה ומציע שיפורים. סיכום העלילה: ככל שהטכנולוגיה ממשיכה להתקדם בקצב מהיר, חשוב להבין את תהליך ההתפתחות הטכנולוגית ואת השפעתה על הישרדות האדם. הספר ”Religability of Power Semiconductor Devices” מדגיש את החשיבות של חקר והבנת האבולוציה של הידע המודרני כדי להבטיח את הישרדות האנושות.''
Güç Yarı İletken Cihazlarının Güvenilirliği (Güç Yarı İletken Cihazlarının Güvenilirliği) kitap, özellikle VK2200 T160 MSR VKDU150 diyotlar ve tristörlere odaklanan güç yarı iletken cihazlarının güvenilirliğinin kapsamlı bir analizini sunar. Yazarlar, MSR başarısızlıklarının genel mekanizmalarını incelemekte ve güvenilirliklerini kontrol etmek için metodolojik yaklaşımlar sunmaktadır. Çalışma ayrıca bu cihazların güvenilirliğini etkileyen faktörlere de bakıyor ve iyileştirmeler öneriyor. Teknoloji hızlı bir şekilde ilerlemeye devam ettikçe, teknolojik gelişme sürecini ve bunun insanın hayatta kalması üzerindeki etkisini anlamak önemlidir. "Güç Yarı İletken Cihazlarının Güvenilirliği" kitabı, insanlığın hayatta kalmasını sağlamak için modern bilginin evrimini incelemenin ve anlamanın önemini vurgulamaktadır.
موثوقية أجهزة أشباه الموصلات القوية (موثوقية أجهزة أشباه الموصلات القوية) يقدم الكتاب تحليلاً شاملاً لموثوقية أجهزة أشباه الموصلات القوية التي تركز بشكل خاص على الثنائيات والثيريستورات VK2200 MSR T160 VKDU150. يتعمق المؤلفون في الآليات العامة لفشل MSR ويقدمون مناهج منهجية للتحقق من موثوقيتها. تبحث الدراسة أيضًا في العوامل التي تؤثر على موثوقية هذه الأجهزة وتقترح تحسينات. موجز الحبكة: مع استمرار تقدم التكنولوجيا بوتيرة سريعة، من المهم فهم عملية التطور التكنولوجي وتأثيرها على بقاء الإنسان. يسلط كتاب «موثوقية أجهزة أشباه الموصلات القوية» الضوء على أهمية دراسة وفهم تطور المعرفة الحديثة لضمان بقاء البشرية.
전력 반도체 장치의 신뢰성 (전력 반도체 장치의 신뢰성) 이 책은 MSR VK2200 다이오드 및 사이리스터 T160 VKDU150에 특히 중점을 둔 전력 반도체 장치의 신뢰성에 대한 포괄적 인 분석을 제공합니다. 저자는 MSR 실패의 일반적인 메커니즘을 탐구하고 신뢰성을 확인하기위한 방법 론적 접근 방식을 제시합니다. 이 연구는 또한 이러한 장치의 신뢰성에 영향을 미치는 요소를 검토하고 개선을 제안합니다. 줄거리 요약: 기술이 빠른 속도로 계속 발전함에 따라 기술 개발 과정과 인간 생존에 미치는 영향을 이해하는 것이 중요합니다. '파워 반도체 장치의 신뢰성'책은 인류의 생존을 보장하기 위해 현대 지식의 진화를 연구하고 이해하는 것의 중요성을 강조합니다.
パワー半導体デバイスの信頼性(パワー半導体デバイスの信頼性)本書は、MSR VK2200ダイオードとサイリスタT160 VKDU150に焦点を当てたパワー半導体デバイスの信頼性の包括的な分析を提供します。著者たちは、MSRの失敗の一般的なメカニズムを掘り下げ、その信頼性を確認する方法論的アプローチを提示している。この研究では、これらのデバイスの信頼性に影響を与える要因も検討し、改善を示唆しています。プロットの概要:技術は急速に進歩し続けているので、技術開発のプロセスと人間の生存への影響を理解することが重要です。「パワー半導体デバイスの信頼性」は、人類の生存を確実にするために現代の知識の進化を研究し理解することの重要性を強調しています。
功率半導體器件的可靠性(功率半導體器件的可靠性)本書提供了對功率半導體器件的可靠性的全面分析,這些器件專門聚焦於MSR二極管和VK2200 T160晶體管VKDU150。作者深入研究了MSR的常見故障機制,並提出了驗證其可靠性的方法方法。該研究還研究了影響這些設備可靠性的因素,並提出了改進建議。情節摘要:隨著技術繼續快速發展,了解技術發展過程及其對人類生存的影響至關重要。《功率半導體設備的可靠性》一書強調了研究和理解現代知識演變以確保人類生存的重要性。

You may also be interested in:

Эксплуатация и надежность гидро- и пневмоприводов
Испытания радиоэлектронной аппаратуры на надежность
Безопасность и надежность технических систем
Нечеткая надежность алгоритмических процессов
Надежность электрооборудования и систем электроснабжения
Надежность и техническая диагностика систем
Надежность и эффективность электрических аппаратов
Надежность и эффективность электрических аппаратов
Надежность элементов радиоэлектронной аппаратуры
Надежность сооружений систем водоснабжения
Надежность, безопасность и живучесть самолета
Работоспособность и надежность деталей машин
Виртуальные лаборатории полупроводниковых систем в среде Matlab-Simulink
Параметрические стабилизаторы напряжения на полупроводниковых приборах и магнитных усилителях
Виртуальные лаборатории полупроводниковых систем в среде Matlab-Simulink
Виртуальные лаборатории полупроводниковых систем в среде Matlab-Simulink
Надежность радиорелейных и спутниковых линий передачи
Основы теории ускоренных испытаний на надежность
Надежность и диагностика систем автоматического управления
Основы теории ускоренных испытаний на надежность
Основы ускоренных испытаний радиоэлементов на надежность
Контроль качества и надежность железобетонных конструкций
Надежность и безопасность структурно-сложных систем
Надёжность технических систем военного назначения
Надежность строительных конструкций магистральных трубопроводов
Надёжность технических систем военного назначения
Надежность технических систем. Примеры и задачи
Надежность, оптимизация и диагностика автоматизированных систем
Надежность радиоэлектронного оборудования и средств автоматики
Надёжность и эффективность в технике. Справочник. В 10 томах
Проектирование магнитных и полупроводниковых элементов автоматики. Изд. 2, перераб. и дополн.
Физические процессы в полупроводниковых импульсных лазерах с накачкой электронными пучками
Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Схемы на четырехслойных полупроводниковых приборах. Массовая радиобиблиотека. Выпуск 625
Строчная развертка на полупроводниковых приборах. Массовая радиобиблиотека. Выпуск 685
Надежность, контроль и диагностика вычислительных машин и систем
Прочностная надежность и долговечность деталей машин и конструкций
Прочностная надежность и долговечность деталей машин и конструкций
Надежность нейронных сетей. Укрепляем устойчивость ИИ к обману
Статистическая теория подобия надежность технических систем